| シラバス | - ［授業の方法］
- 講義
- ［受入人数］
-
- ［受講対象］
- 科目等履修生 履修可;共生応用化学科3年次学生（応用化学コース学生は選択必修）
- ［授業概要］
- 無機化学I・IIの基礎知識の修得の後に，無機化学において重要な方法論の一つとして確立しているＸ線回折論について述べ，その基本概念を理解する。さらに，近年多用されているXAFS法の概論まで講義する。
- ［目的・目標］
- 物質や材料の特性は，そこに含まれる元素とそれらの結合様式だけでなく，さらにはその結果生じる空間的な配置（構造）や構造単位の集合状態に大きく依存する。学問の分野を問わず構造解析の重要な手法となっているX線回折法およびXAFS法について理解を深め，結晶だけでなく非晶質体の構造とその特性の基礎までを学ぶ。
- ［授業計画・授業内容］
- 独自資料と必要に応じてOA機器を利用して動画を見せつつ講義を進め，リポートと単元テストを課すことにより理解度を把握しその向上を図りつつ，最終的に期末テストにより学習成果を評価する。授業外学習としては，ポートフォリオ等を利用し授業を振り返ることを求め，配布資料の予習・復習を課す。
- 回折現象の一般論
- 回折格子
- Ｘ線回折と歴史
- Ｘ線の性質
- Ｘ線と物質の相互作用（透過・散乱・吸収）
- 電子によるＸ線の散乱
- 原子によるＸ線の散乱
- 微結晶によるＸ線の散乱
- 回折により求まる化学的・物理的情報の種類と特徴
- Ｘ線回折における実験操作詳論
- Ｘ線の吸収(線吸収係数・質量吸収係数)
- XAFS法の原理
- XAFS法の応用
- 非晶質体の構造（概論）と特性の概論
- 非晶質体の物理化学的特性（概論）
- まとめ・期末試験
- ［キーワード］
- 回折論と歴史，Ｘ線の性質，Ｘ線の散乱と吸収，Ｘ線回折実験操作，XAFS法，非晶質体の構造と特性
- ［教科書・参考書］
- 教科書：なし，参考書：B. D. Cullity, 新版Ｘ線回折要論, アグネ(1980); 仁田 勇, Ｘ線結晶学（上, 下）, 丸善(1959,1961); 早稲田嘉夫・松原英一郎, Ｘ線構造解析：原子の配列を決める，内田老鶴圃（1998）；太田俊明（編），Ｘ線吸収分光法―XAFSとその応用―，アイピーシー（2002）
- ［評価方法・基準］
- 単元テスト(20％)・期末テスト(40％)をもとに，リポート点(40％)を加味して総合的に評価する。試験時に不正行為があった場合は、単位取得を認めず、学則に基づき厳重に処分する。レポートの提出期限は、期末テスト実施１週間前とする。
- ［関連科目］
- 基礎化学A，無機化学I・II
- ［履修要件］
- 基礎化学A（必修）と無機化学I（必修）を受講した上に，無機化学IIを受講していることが望まれる。
- ［備考］
- ・オフィスアワー：前期・月曜日・17：40- （要 メイル予約）， 場所：工学部1号棟217室
|
|---|