| シラバス | - ［授業の方法］
- 講義
- ［受入人数］
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- ［受講対象］
- 原則として3年生以上
- ［授業概要］
- 様々な機能性材料の正確な構造情報を得ることは，画像デバイス開発の重要な要素である。本講義では，物質の構造情報を得るための分析方法の中でも，特に電磁波や電子線を用いた機器分析法を中心として，基本原理をもとに解説する。
- ［目的・目標］
- 各種機器分析によって得られる構造情報を把握し，またこれらの基本原理を理解することを目的とする。具体的には，[1]放射（特に電磁波・電子線）の基本特性に基づき，物質との様々な相互作用に関して理解する，[2]放射と物質との相互によって得られる構造情報と，その取得方法について理解する，[3]実際の分析機器の構造・原理について知る，[4]その他の関連する分析方法について知る。[5]これらの分析手法間の相違点と類似点を整理し，各々の特徴を理解する，である。ただし，細かな事項の記憶よりも，基本原理の理解を重視する。
- ［授業計画・授業内容］
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- 序論
- 微細構造の拡大観察１：顕微鏡概論
- 微細構造の拡大観察２：光学顕微鏡法
- 微細構造の拡大観察３：電子顕微鏡法
- 微細構造の拡大観察４：走査型プローブ顕微鏡法
- 電磁波と分子の構造情報１：原子吸光分析法・原子発光分光分析法
- 電磁波と分子の構造情報２：紫外可視分光分析法・蛍光分光分析法
- 電磁波と分子の構造情報３：赤外分光分析法
- 電磁波と分子の構造情報４：ラマン分光法
- 電磁波と分子の構造情報５：核磁気共鳴分光分析法
- 組成分析１：蛍光X線分析法・X線光電子分光法
- 組成分析２：電子線マイクロアナリシス
- 固体の規則構造１：結晶構造と回折現象
- 固体の規則構造２：X線回折法・電子線回折法
- 物質の分離分析：質量分析法
- 期末試験
- ［キーワード］
- 機器分析，微小構造，分子構造，結晶構造，元素組成
- ［教科書・参考書］
- 教科書：特になし，参考書：『「機器分析」（大谷肇ほか編著；エキスパート応用化学シリーズ）講談社 (2015年)』など。機器構造などの資料は，随時配布する。
- ［評価方法・基準］
- 期末試験および宿題により評価する。概ね，期末試験7，宿題3を目安に評価を行う。（宿題の出題回数などで若干前後する。）
- ［関連科目］
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- ［履修要件］
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- ［備考］
- この科目は「物質センシング」の読み替え科目です。
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