| 開設年度 | 2016 年度 |
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| 科目コード | T207010 |
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| 授業コード | T20701001 |
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| 授業科目名 | 表面計測化学 |
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| 同上英語名 | Advanced Surface Analysis |
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| 単位数 | 2.0 単位 |
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| 開講学科 | 工学研究科共生応用化学専攻（共生応用化学コース） (T241) |
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| 開放区分 | |
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| 担当教員 | 藤浪 眞紀, 野本 知理 |
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開講時限・
講義室等 | 前期月曜5限
（講義室：工学系総合研究棟2階第二会議室） |
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科目区分
（詳細表） |
- 2016年入学生：
- 選択科目S30（T211:工学研究科建築学コース（前期）, T212:工学研究科都市環境システムコース（前期）, T221:工学研究科デザイン科学コース（前期）, T231:工学研究科機械系コース（前期）, T232:工学研究科電気電子系コース（前期）, T233:工学研究科メディカルシステムｺｰｽ（前期）, T241:工学研究科共生応用化学コース（前期））
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| シラバス | - ［授業の方法］
- 講義・発表
- ［受入人数］
- 15
- ［受講対象］
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- ［授業概要］
- 機器分析を中心とした表面計測科学について原理・応用を議論する。本講義は学生を主体としたプレゼンテーションからなる。
- ［目的・目標］
- 物質の表面に対してのアプローチから，そこにある化学，物理を学ぶ。
- ［授業計画・授業内容］
- 本講義は，学生が主体となって構成するものである。すべての受講者は課題の中から無作為に割り当てられたテーマについて，物質と励起源の相互作用の基礎およびそれによる原子・分子検出法の観点からの発表および教員と学生による質疑応答を90分間行う。受講者はそのために十分な予習を要求する。また，発表がない回のテーマについては全員がそのテーマに関してのレポートA4で2枚程度を提出する。最終回は試験を課す。
- 超高真空技術
- 陽電子消滅法
- 走査型電子顕微鏡
- 電子線プローブマイクロアナライザー
- 蛍光X線分析
- X線吸収分析
- X線光電子分光法
- オージェ電子分光法
- ラマン散乱分光法
- 蛍光分光法
- 二次イオン質量分析法
- ラザフォード後方散乱分光法
- 顕微レーザー分光法
- 顕微レーザー分光法
- 試験
- ［キーワード］
- 表面分析
- ［教科書・参考書］
- 特になし
- ［評価方法・基準］
- 単位取得には課題発表および全レポート提出が必要である。評価はその内容および毎回提出のレポート内容，最終試験により評価する。
- ［関連科目］
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- ［履修要件］
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- ［備考］
- 受講希望者は4月27日5限に集合のこと。課題決めを行う。
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| 関連URL |
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| 備考 | |
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